آزمايشگاه مربوطه: آزمايشگاه جامع تحقیقات نام دستگاه: (فارسي- لاتين): میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscope
مدل دستگاه: JPK-NanoWizard II
سال ساخت : 2011
سال خريد : 1390
خاصيتهاي قابل اندازه گيري : بررسی خواص و ساختار سطحی مواد در ابعاد نانومتر
زمينه هاي كاربردي: علوم پايه , بيوتكنولوژي و نانوتکنولوژی
مورد قابل اندازه گيري با دستگاه:
مورد اندازه گیری
|
واحد اندازه گیری
|
دقت اندازه گیری
|
تصویربرداری از ساختارهای سطحی مواد معدنی، پلیمرها، بیوپلیمرها، سلولهای زنده در محیط مایع و سطوح جامد
|
|
|
خدمات قابل ارائه با این دستگاه:
شرح خدمات
|
نحوه ارائه خدمات
|
هزینه خدمات(ریال)
|
تصویربرداری از ساختارهای سطحی مواد معدنی، پلیمرها، بیوپلیمرها، سلولهای زنده در محیط مایع و سطوح جامد
|
تکمیل فرم مربوطه به همراه تحویل نمونه به آزمایشگاه
|
|
کاربر دستگاه:
نام و نام خانوادگی
|
مدرک
|
شماره تماس
|
خانم مریم حسینی
|
کارشناسی ارشد میکروبیولوژی |
|
دريافت فايل PDF آشنايي با میکروسکوپ AFM
|
|