میکروسکوپ AFM

 

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM
Atomic Force Microscope
 
 
 
آزمايشگاه مربوطه: آزمايشگاه جامع تحقیقات
نام دستگاه: (فارسي- لاتين): میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscope
مدل دستگاه: JPK-NanoWizard II
سال ساخت : 2011
سال خريد : 1390

خاصيتهاي قابل اندازه گيري : بررسی خواص و ساختار سطحی مواد در ابعاد نانومتر
زمينه هاي كاربردي: علوم پايه , بيوتكنولوژي و نانوتکنولوژی
 
 
         مورد قابل اندازه گيري با دستگاه:
مورد اندازه گیری
واحد اندازه گیری
دقت اندازه گیری
 
تصویربرداری از ساختارهای سطحی مواد معدنی، پلیمرها، بیوپلیمرها، سلولهای زنده در محیط مایع و سطوح جامد
 
   
 
 
         خدمات قابل ارائه با این دستگاه:
شرح خدمات
نحوه ارائه خدمات
هزینه خدمات(ریال)
 
تصویربرداری از ساختارهای سطحی مواد معدنی، پلیمرها، بیوپلیمرها، سلولهای زنده در محیط مایع و سطوح جامد
 

حضوري با هماهنگي قبلي با آزمايشگاه

 
 
 
         کاربر دستگاه:  
نام و نام خانوادگی
مدرک
شماره تماس

خانم مریم حسینی

 
05137112788 
 
 
دريافت فايل PDF آشنايي با میکروسکوپ AFM